Summary of Tables 1A - 1H: HTRB
Table 1A
MOSFET/IGBT
discrete device *)
Table 1B
MOSFET/IGBT
Module
Table 1C
Thyr./Diode
Module
Table 1D
Controller/
Rec. Bridge*)
Table 1E
FRED
*)
Table 1F
Schottky
Diode*)
Table 1G
Thyr./Diode
discrete device*)
Table 1H
ISOPLUS
Failure Rate [FIT] 125°C, 60% UCL
Failure Rate [FIT] 90°C, 60% UCL
Total Lots Tested
Total Devices Tested
Total Actual
Failures 60% UCL {eq. (2)}
592
35
169
4932
2
3
12483
747
13
116
0
0.92
45956
2752
15
160
1
2
17190
1029
17
170
0
0.92
1939
116
35
645
0
0.92
845
51
24
570
0
0.92
16855
1009
12
210
1
2
-
-
20
456
1
-
Total Equivalent Device Hours
@ 125°C {AF eq. (1)}
MTTF 125°C 60% UCL
(Years) 90°C 60% UCL
5066720
193
3220
73702
9
153
43520
2
41
53520
7
111
474548
59
983
1089301
135
2257
118658
7
113
465622
-
-
Summary of Table 2A - 2C: HTGB
Table 2A
MOSFET/IGBT
discrete device *)
Table 2B
MOSFET/IGBT
Module
Table 2C
ISOPLUS
Failure Rate [FIT] 125°C, 60% UCL
Failure Rate [FIT] 90°C, 60% UCL
Total Lots Tested
Total Devices Tested
Total Actual
Failures 60% UCL {eq. (2)}
231
75
138
4030
0
0.92
4606
1486
15
210
0
0.92
-
-
15
460
0
-
Total Equivalent Device Hours
@ 125°C {AF eq. (1)}
MTTF 125°C 60% UCL
(Years) 90°C 60% UCL
3976960
493
1530
199740
25
77
506800
-
-
*) including ISOPLUS
IXYS Semiconductor GmbH
3
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